| 導入年度 | 装置名 | 略号 | メーカー | 型番 |
|---|---|---|---|---|
| 2022年 | 液体クロマトグラフトリプル四重極型質量分析計（質量分析部：Xevo TQ-XS型） | LC‐MS/MS | Waters | Xevo TQ-XS |
| 2021年 | 有機元素分析計 | CHNOS | エレメンター・ジャパン | vario EL cube |
| 2020年 | 核磁気共鳴装置（溶液NMR）400MHz | NMR | 日本電子 | JNM-ECZ400S |
| 2019年 | 走査型プローブ顕微鏡法 （Dimension XR） |
SPM | ブルカージャパン | Dimension XR |
| 2019年 | イオンクロマトグラフ-質量分析計（IC-MS）（陽イオン分析システム） | 陽IC-MS | サーモフィッシャーサイエンティフィック | ICS-6000型 + ISQ EC型 |
| 2018年 | 液体クロマトグラフハイブリッド型質量分析計(質量分析部：Orbitrap 型) | LC-MS | サーモフィッシャーサイエンティフィック | Q-Exactive Focus |
| 2018年 | マルチ型ICP発光分光分析装置(ICP-AES) | ICP-AES | アジレント・テクノロジー | Agilent 5110 VDV |
| 2018年 | 核磁気共鳴装置（Cryo Probe 付属） | NMR | ブルカージャパン |
AVANCE NEO 600（本体）, 5mm DCH 600MHz Z-Gradient（Cryo Probe） |
| 2017年 | 高温ゲル浸透クロマトグラフ | 高温GPC | Agilent | PL-GPC22 |
| 2017年 | 粉体封じ込め（コンテインメント）秤量システム | a1-Safetech | ST1-900CV3/S-110 | |
| 2017年 | TEM/STEMトモグラフィ | システムインフロンティア | ||
| 2016年 | X線光電子装置用前処理装置 (VersaPrep) | XPS/ESCA | ULVAC-PHI 社製 | Versaprep |
| 2016年 | コロナ荷電化粒子検出器 | Corona CAD | サーモフィッシャーサイエンティフィック | Corona™Veo™ |
| 2016年 | ナノインデンター | HYSITRON | TI Premier Multi Scale | |
| 2016年 | 球面収差補正STEM | STEM | 日本電子 | JEM-ARM200F |
| 2016年 | マトリックス支援レーザー脱離イオン化-タンデム飛行時間型質量分析計 | MALDI-TOF/TOF-MS | ブルカー･ダルトニクス | rapifleX TOF/TOF |
| 2016年 | マイクロ波試料前処理装置 | アントンパール | Multiwave PRO | |
| 2016年 | 比表面積・細孔径分析装置 | Quantachrome | QUADRASORB evoTM | |
| 2015年 | 誘導結合プラズマ質量分析装置 | ICP-MS | Agilent technologies | 8800 |
| 2015年 | イオンクロマトグラフ－質量分析計 | IC-MS | サーモフィッシャーサイエンティフィック | ICS-2100 + MSQ PLUS |
| 2015年 | トリプルビーム（FIB-SEM-Ar）複合装置の大気遮断対応 | VTD2500 | ||
| 2015年 | ガスクロマトグラフ四重極飛行時間型質量分析計 | GC-Q-TOF/MS | Agilent technologies | 7200B |
| 2015年 | ガスクロマトグラフ質量分析計 | GC/MS | Agilent technologies | 5977 |
| 2015年 | 昇温脱離ガス質量分析計 | TDS-MS | 電子科学 | TDS1200Ⅱ |
| 2014年 | フーリエ変換赤外分光法 シールド加熱ダイヤモンド ATR |
Specac | ||
| 2014年 | マルチ型ICP発光分光分析装置 | ICP-AES | 島津製作所製 | ICPE-9820 |
| 2014年 | 加圧型マイクロ波分解装置 | UltraWAVE | マイルストーン ゼネラル | |
| 2014年 | 固体の電子構造計算プログラム：EELS理論計算 | WIEN2k | ||
| 2014年 | TEMひずみ解析ソフト | PPA | HREM Research | |
| 2014年 | 無機元素分析法（C、S） | EA | LECO | CS844 |
| 2014年 | 固体粘弾性測定装置 | TA Instruments | RSA-G2 | |
| 2014年 | 熱機械分析装置 | （調湿）TMA | ネッチ・ジャパン | TMA-4000SE+HC9700 |
| 2013年 | 電子線マイクロアナライザー | FE-EPMA | 日本電子製 | RJXA-8530F |
| 2013年 | 走査型プローブ顕微鏡 | SPM | ブルカー | MultiMode8 (NanoScope V) |
| 2013年 | 透過型電子顕微鏡 | TEM | 日立ハイテクノロジーズ | HT7700 |
| 2013年 | 透過電子後方散乱回折 | t-EBSD | TSL | OIM |
| 2013年 | 大気非曝露冷却クロスセクションポリッシャ | CP | 日本電子 | IB-09020CP |
| 2013年 | 走査型電子顕微鏡 | SEM | 日本電子 | JSM-7800F |
| 2013年 | 電子後方散乱回折 | EBSD | TSL | OIM |
| 2013年 | 高感度示差走査熱量計（熱流束型） | DSC | 日立ハイテクサイエンス | X-DSC7000 |
| 2013年 | Nano IR/TA:AFM-IR Spectroscopy | Nano IR/TA | Anasys Instrument | |
| 2013年 | 光安定性試験装置 | ナガノサイエンス | LTL-200A5-14WCD |
