リチウムイオン二次電池
- Liイオン電池正極活物質中の金属元素分析
- Li二次電池正極材料の断面観察
- XPSによるLiイオン電池正極表面の分析
- EELSスペクトルによるMn酸化状態の解析
- Liイオン電池（正極材）の蛍光Ｘ線による組成分析
- Liイオン電池（正極材）のＸ線回折による構造解析
- オージェによるLiイオン電池正極表面の評価
- Liイオン電池正極の表面EDS分析−その1、その2
- Co酸化物中LiのEELSマッピング検討
- TOF-SIMSによるLiイオン電池正極表面の分析
- TDS-MSによるLiB正極活物質温度特性の分析
- LiB正極のTDS-MSによる温度特性の分析（1）
- Ar-GCIBを用いたLiイオン電池負極表面のXPS深さ方向分析
- 走査型プローブ顕微鏡（SPM）を用いた導電パス解析
- Liイオン電池負極活物質中の金属元素分析
- カーボン材料の劣化状態の観察
- 雰囲気遮断ホルダーを用いたSEM観察
- 高感度EDSによるLiB用負極内のバインダー・分散剤の分布評価
- Liイオン電池バインダーの分析
- FT-IRによるセパレーターの分析
- Li電池用セパレーターの多孔質構造の観察
- Liイオン電池の電解液溶媒の組成分析
- 19F-NMRによるリチウムイオン電池の電解液中のF−の定量分析
- 多核NMRによるLiB電解質（LiPF6ならびに分解物）の分析
- 11B-NMR測定（19Fデカップリング）
- NMR法による拡散係数の評価
- LC/MS多変量解析による製品特性の解析（3）
- LC/MSによるイオン液体の分析
- 嫌気性材料の大気非暴露分析項目のご紹介
燃料電池
- コロイド粒子のTEM観察
- Pt/C触媒の耐久性評価
- EELSによるPtシェル厚みの測定
- 暗視野STEM像によるPt粒子の露出結晶面の解析
- STEMトモグラフィによる貴金属担持カーボン触媒の3D解析（1）
- STEMトモグラフィによるカーボン担体の細孔径解析
- 流体シミュレーションに基づく多孔質材料の細孔構造解析
- STEM-EDSトモグラフィによるアイオノマー観察
パワー半導体
- SPMによるSiウエハの表面粗さ測定
- EDS制限視野マッピング測定
- 面内回折法による表面構造解析（1）
- 面内回折法による表面構造解析（2）
- 多孔質low-k膜ポアサイズ分布解析
- Cs（球面収差係数）補正STEM
- Cs補正STEMによる各種材料観察
- EELSスペクトルラインプロファイルによる酸化膜解析
- EELSによる状態分析
- オージェ及びレーザラマンによるセラミックスの構造評価
- 多層薄膜の深さ制御In-Plane回折測定
- SIM像によるチャネリングコントラスト
- SIM像を用いたLSIの不良箇所の特定
LED素子
- TOF-SIMSによる超格子の分析（2）
- 発光ダイオードの断面観察
- TEMによるGaN中転移構造の詳細観察
- ヘテロ接合界面に生成した微小ドメインの解析
- 半導体ヘテロ接合界面のTEMひずみ解析
- EELSマッピング
