論文発表
- Journal of the Ceramic Society of Japan,Vol.116,No7,pp781-785（2008年）
- Evaluation on Microstructure and Dissolution Behavior of SiC-AlN Composites Fabricated by SPS Process
（白水 啓太、大草 隆浩、川元 亨） - 高密度SiC-AlN複合体をスパークプラズマ焼結法によって1,800〜2,100℃の温度範囲で作製した。緻密化は焼結温度の上昇とともに進行した。SiC粒子径がサブミクロンの場合、Si、Alの不均一固溶体であったが、ナノ粒子を用いた場合はほぼ均一固溶体が得られた（EPMA元素マッピング）。XRDによる同定から、1,800〜2,000℃ではβ-SiC_3C相とα-SiC/AlN_2H相の混合相、2050℃以上ではα-SiC/AlN_2H単相のみ認められた。さらに各相の格子定数の変化から、焼結温度の上昇とともにβ-SiC_3C相がα-SiC_2H相に変化し、AlN_2H相との部分固溶体を形成する過程が示唆された。SEMから2100℃では粒成長が認められ、粒界三重点も明瞭に観察された。原料粉体中の微量酸素による影響が示唆された。
- Applied Physics Express, 1（2008年）064005
- Influence of Diameter on the Raman Spectra of Multi-Walled Carbon Nanotubes
（二井 裕之、住山 芳行、中川 浜三、國重 敦弘） - 多層カーボンナノチューブ（MWNTs）のラマンスペクトルに及ぼす直径の影響について調べた。ピークフィッティングにより求められたGバンドのピーク波数は、直径20nm以下の領域では直径の増加とともにに減少し、より太い直径では一定となることが分かった。XRDより求められた層間距離との関係から、このGバンドのピーク波数の直径依存性は、20nm以下の直径ではMWNTsの層間距離に依存してGバンドのピーク波数が減少し、20nm以上では光の侵入深さの制限により依存性が観測されなくなっているものとして理解できることが分かった。
学会発表
- 2009年春季 第56回 応用物理学関係連合講演会 （2009年3月31日）
- CNT/樹脂複合材料のSEM観察像における像形成機構II：樹脂部コントラストの成因 （川元 亨）
- 日本化学会 第89春季年会 （2009年3月29日）
- 1H-NMR及び超臨界メタノールを用いた無水マレイン酸グラフトポリオレフィンのグラフト率高感度定量分析 （宮内 康次 、齊藤 啓治）
- 物質構造研究会 （2009年3月5日）
- 企業におけるＸ線回折に関するニーズ （國重 敦弘）
- Journal of Applied Physics （2008年12月12日）
- Feasibility study for sidewall fluorination of SWCNTs in CF4 plasma （正田 薫、他）
- 日本環境変異原学会 第37回大会 （2008年12月4日）
- 少量検体のためのin vitro小核試験 （武下 健次、村田 浩一、岡田 明子、野口 幸弘 、田村 雅範、小川 徹）
- 第13回 高分子分析討論会 （2008年11月26、27日）
- 不良解析における各種観察像の活用法 （樫尾 庄一 、尾田 傳一）
- ナノコンポジットの3D-TEMによる粒子解析 2 （門間 公俊、尾田 傳一、山口 正彦）
- 第19回 遠赤外線技術シンポジウム （2008年11月5日）
- 赤外放射測定による黒ゴムの劣化評価 （秋庭 芳一、君塚 雄太）
- 第4回 真空・表面科学アジア・オーストラリア会議 （2008年10月30日）
- Hydrogen Distribution in Titanium Material with Low Outgassing Property （竹田 将利（山口大学共同研究））
- 2008年秋季 日本物理学会 （2008年9月22、23日）
- CF4プラズマによるSWCNTのフッソ化 （正田 薫）
- CoPtCrB磁性膜中のBサイトの評価 （正田 薫）
- 2008年秋季 第69回応用物理学会学術講演会 （2008年9月2日）
- カーボンナノチューブ/樹脂複合材料のSEM観察像における像形成機構 （川元 亨）
- 第57回 高分子学会 （2008年5月30日）
- 高分子フィルム表面の結晶構造とその異方性III （國重 敦弘、川崎 勝、陣田 一也）
- 高分子分析研究懇談会 第342回例会 （2008年5月8日）
- SEMによる高分子材料中のカーボンナノチューブの分散状態観察 （樫尾 庄一）
解説・紹介
- 電子ジャーナル 別冊「2009 半導体故障解析・分析技術大全」P396-8 （2008年10月3日発行）
- UBE科学分析センターの故障解析・分析受託サービス （小林 孝成）
