Ｘ線回折による結晶化度の算出
−プロファイルフィッティング法−

Ｘ線回折法により、高分子材料の結晶化度を求めることができます。

合成樹脂のような有機高分子では低角度側に特徴的な回折ピークが出現し、高角度側には結晶成分による回折ピークはほとんど検出されないことが多いため、試料間の相対比較で十分な場合には、主ピークの周辺の一定範囲でプロファイルフィッティングを行い、結晶化度を算出することが可能です。

全ピーク面積（結晶成分のピーク面積＋非晶成分のハローパターン面積）に対する結晶成分のピーク面積の比から結晶化度を算出します。簡便且つ、視覚的、感覚的にも受け入れ易く、理解し易いといった利点があります。

図：ポリエチレン（PE）フィルムのプロファイルフィッティング