SEM-XRDによる多層カーボンナノチューブの直径評価

走査型電子顕微鏡（SEM）と粉末Ｘ線回折法（XRD）を用いた、多層カーボンナノチューブ（MWCNT）の直径評価をご紹介します。

試料としてNTP社製のL-MWNTsシリーズを使用して評価を実施しました。横軸の直径はSEM写真（×50,000倍）を撮影し、約40箇所の外形計測結果から平均値と標準偏差を算出した結果です。縦軸はグラファイト001回折線に対応する回折プロファイルより求めた1/半値幅（n=3）となっています。

SEM による直接観察結果から求められた直径と試料全体を反映するXRDの半値幅との間に、とてもきれいな相関が得られたことから、多層カーボンナノチューブの直径のマクロな領域での評価に、XRDで対応できることが判りました。

図：直径と半値幅の関係