ポリマーシートの深さ制御In-Plane回折測定
― 極表面の規則構造評価 ―

全反射臨界角度近傍の極めて低い照射角でＸ線を入射して得られる面内（In-Plane）回折Ｘ線により極表面の結晶構造が評価できます。この入射角度を精密に制御することにより、深さ方向での構造解析が可能であり、ポリプロピレン製シートでの実施例を報告します。

下図に測定結果を示します。ポリプロピレンシート最表面の結晶性は低く、内部（バルク）では結晶性が高まっていると推察されます。

図：PPシート深さ制御In-Plane回折測定チャート