TOF-SIMSによる用紙のインクはじき部の分析

インクはじきが発生した用紙の表面についてTOF-SIMSを用いて評価を行った例を示します。以下の図1に示すようなインクはじきの発生した不具合品と、正常品についてTOF-SIMSの2次イオン質量スペクトルを求めたところ、異常品より有機ケイ素系（Poly Dimethyl Siloxane：PDMSと予測）由来と考えられるピーク（m/z = ²⁸Si、⁷³C₃H₉Si、¹⁴⁷C₅H₁₅OSi₂）が特徴的に検出され、はじき原因成分の可能性が示唆されました（図2）。

また、シロキサン由来のピークであるm/z = ⁷³C₃H₉Siの2次イオン像を求めたところ、不具合品では測定視野内で一様な分布である事が分かりました（図3）。

図1：インクはじきの様子（左：不具合品、右：正常品）

図2：各試料より得られた＋2次イオン質量スペクトル（左：不具合品、右：正常品）

図3：各試料より得られたm/z = ⁷³C₃H₉Siの2次イオン像（左：不具合品、右：正常品）