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S261

TOF-SIMSによる生体試料の分析(毛髪の分析)
−生体材料表面分析−

TOF-SIMSは高感度、高空間分解能で表面の元素や化学構造の情報を得ることができるため、半導体分野以外でも有機物、高分子材料、生体関連試料の解析・評価など広い分野に応用されています。ここでは、生体試料の分析例として、毛髪の測定例を紹介します。

図1に毛髪の光学写真とその二次イオン像を示します。二次イオン像から毛髪の表面組織の存在が確認されます。

図1:毛髪の光学写真(左)と二次イオン像(中、右)

図1:毛髪の光学写真と二次イオン像

毛髪の中央付近(図1-中央の□領域)で測定した質量スペクトルを図2に示します。シャンプーの成分の一つであるPDMS(Polydimethylsiloxane)が検出されていることが分かります。(m/z=147、207、221、281 etc.)

図2:毛髪の質量スペクトル

図2:毛髪の質量スペクトル

このようにTOF-SIMSでは、生体試料における表面の残存成分を高感度に分析することが可能です

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