スチレン系ブロック共重合体の3D-TEM観察

ナノ領域での構造体解析を立体的に可視化するため、TEMと計算機トモグラフィ（CT：Computerized Tomography）を合わせたＴＥＭトモグラフィ（TEMT：Transmission Electron Microscope Tomography）を用い、ナノレベルでの三次元構造評価を行ないました。今回はTEMトモグラフィを用いたスチレン系ブロック共重合体の三次元構造解析事例を紹介します。

スチレン（ハードセグメント）とアクリルゴム（ソフトセグレント）共重合材料を用い、不均一なミクロ相分離構造（写真1）における任意な内部断面構造を観察しました。尚、前処理方法は樹脂による包埋、ウルトラミクロトームでの面出し、金属酸化物による蒸気染色を施し、電子顕微鏡用切片としました。傾斜角度範囲は±60°（角度は1°ステップ）で連続傾斜像を用いて三次元データを再構成しました（写真2、3、4）。

写真1：スチレン系ブロック共重合体	写真2：三次元再構成の観察事例
写真3：三角図法	写真4：スライス像（任意断面像）