IR測定法（顕微透過反射法）

図1：顕微透過反射法の模式図

赤外分光分析（IR）は、有機物の代表的な分析法のひとつとして、古くから広く用いられており、サンプルの状態や目的に応じて、様々な測定法があります。今回は、顕微透過反射法について紹介します。

顕微透過反射法は、主に金属基板（または、赤外光を反射する基板）上の薄膜や付着物を測定する場合に用いられます。カセグレン鏡にて集光した赤外光を試料に照射し、試料を透過して基板で反射された赤外光からIRスペクトルを取得します（図1）。

測定例のひとつとして、図2に缶詰の蓋（裏面）にコートされた樹脂成分のFT−IRスペクトル（顕微透過反射法、顕微透過法）を示します。

図2：缶詰の蓋（裏面）にコートされた樹脂成分のFT−IRスペクトル
（顕微透過反射法、顕微透過法）

特長

この結果から、顕微透過反射法によるFT−IRスペクトルと顕微透過法によるFT−IRスペクトルの吸収パターンは、よく一致していることが分かります。標準スペクトルやライブラリスペクトルには、透過法によるものが数多くあり、本手法で得られたスペクトルは、スペクトル照合による同定が行いやすいという利点があります。また、試料のサンプリング（目的部位を削り取って回収する等）や前処理（加圧による薄片化等）することなく非接触にて、微小領域（数十〜100µm）の測定が可能であることも、利点として挙げられます。

注意点

本手法を適用するにあたっては、基板が赤外光を反射する（散乱や吸収が少ない）ことが必要条件となります。また、試料が厚い場合（例えば、10µm以上の樹脂膜）、吸収が飽和し、良好なスペクトルが得られないことがあります。図2においても、一部の吸収が飽和しており、樹脂がやや厚かったものと考えられます。

以上のように、一定の条件（基板、試料厚さ）はありますが、顕微透過反射法は、基板上の薄膜の同定／評価、基板上の異物の同定等の様々な場面において、その活用が期待されます。