M208
SEM-EBSD、EDS同一視野測定によるTi合金のミクロ組織評価
合金やセラミックスなど多くの材料は、その組織構造や組成(分布)に依存して物理的性質が変化することが知られています。
今回、走査電子顕微鏡(SEM:Scanning Electron Microscope)を用い、EBSD(Electron BackScattered Diffraction Pattern)とEDS(Energy Dispersive X-ray Spectroscopy)を同一視野でマッピング測定することにより、材料のミクロな組織構造と組成(分布)を評価しました。
以下に、Ti合金での実施例を示します。
Ti合金中にTi(α)相とTi(β)相のミクロ組織が確認され、Ti(β)相からはVが多く検出されました。
図1:(a)SEM像(反射電子像)、(b)EBSD相マップ、(c)(d)EBSD逆極点図方位マップ
図2:EDSマップ(a)Al-Kマップ、(b)Ti-Kマップ、(c)V-Kマップ