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M208

SEM-EBSD、EDS同一視野測定によるTi合金のミクロ組織評価

合金やセラミックスなど多くの材料は、その組織構造や組成(分布)に依存して物理的性質が変化することが知られています。

今回、走査電子顕微鏡(SEM:Scanning Electron Microscope)を用い、EBSD(Electron BackScattered Diffraction Pattern)とEDS(Energy Dispersive X-ray Spectroscopy)を同一視野でマッピング測定することにより、材料のミクロな組織構造と組成(分布)を評価しました。

以下に、Ti合金での実施例を示します。

Ti合金中にTi(α)相とTi(β)相のミクロ組織が確認され、Ti(β)相からはVが多く検出されました。

図1:(a)SEM像(反射電子像)、(b)EBSD相マップ、(c)(d)EBSD逆極点図方位マップ

図1:(a)SEM像(反射電子像)、(b)EBSD相マップ、(c)(d)EBSD逆極点図方位マップ

図2:EDSマップ(a)Al-Kマップ、(b)Ti-Kマップ、(c)V-Kマップ

図2:EDSマップ(a)Al-Kマップ、(b)Ti-Kマップ、(c)V-Kマップ

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