顕微IRマッピング法による材料表面の分析

顕微FT-IRマッピング法により材料の表面の分析が可能です。本法は顕微鏡オートステージ上に固定した材料表面を走査し任意の測定点のIR測定を行います。イメージング法では同時に32×32（=1,024）個の固定された各素子で赤外スペクトルを得るのに対し、マッピング法では測定点の数、測定面積、間隔を任意に設定することができます。そのため、広い面積での表面分析が可能ですが、走査しながらの測定ですので分析に時間を要します。

以下に印字されたコピー用紙表面の分析例を示します。

図1の○が測定点です。これを順次走査しながらIR測定を行います。走査する面積は任意ですが、1度にピーク抽出（2D、3D表示）できる範囲は□です。2-aはインク部分のIRスペクトルで、図2-bはコピー用紙の白い部分のIRスペクトルです。図3はインク部分に特徴的に認められた1,734cm^-1のピークで抽出表示した結果です。

図1：試料CCD画像
図3：IR分析画像	図2：ブランクおよびインク部分のIRスペクトル