X0510
試料水平型回転対陰極式多目的Ｘ線回折装置（XRD）
1. メーカー・型式
リガク製 RINT-TTRIII
2. 原理・特徴
- 原理は通常のＸ線回折法です。
- 従来のゴニオメータ半径より100mm延長を実現し高分解能測定が可能です。
- 試料を完全な水平に固定し、平行ビーム光学系により試料とその表面形態の自由度を向上、さらに温度等の雰囲気を可変とするin-situ測定も可能となっています。
- 高い角度精度、分解能とＸ線強度による正確な回折強度測定が可能であり、粉末結晶構造解析やリートベルト法による構造精密化に最適です。
3. 性能・仕様
| Ｘ線源 | Cu、18kW |
|---|---|
| 入射光学系 | 人工多層膜放物面ミラー（ビーム平行化） |
| 精密ゴニオメータ | θ/θ（試料完全水平）型285mm半径 |
| アタッチメント | 高温、多目的、キャピラリー回転 |
| 受光光学系 | 平行スリットアナライザ（長尺スリット） |
4. 試料量
小スパチュラ1杯の粉末、15mm角以内のバルク
5. 分析依頼の際の留意点
粉末結晶構造解析は十分な試料量にてお願いします。
6. 応用分野・分析例
様々な産業分野および研究分野に応用される
- 微量成分や微量試料の化合物特定
- 触媒材料等の結晶子サイズと格子歪評価
- 無機・有機材料の精密格子定数測定
- 相転移材料の温度依存結晶構造解析
- リートベルト法による構造の精密化
- 粉末結晶構造解析
