C0802
小角Ｘ線散乱装置（SAXS）
1.概要
NANO-Viewerは、物質の分子レベルの構造（1〜100nmのマクロ構造）から原子レベルの構造（0.2〜1nmのミクロ構造）まで評価できる、Ｘ線構造評価装置（小角Ｘ線散乱測定装置）です。
2.性能
【Ｘ線発生装置】卓上型回転対陰極Ｘ線発生装置 RA-Micro7HFM
| 実効焦点サイズ |
φ0.07mm |
| 出力 |
1200W |
| 輝度 |
31kW/mm2 |
【入射光学系】Ｘ線集光ミラー Confocal Max-Flux （CMF） Optic
| ミラーのサイズ |
80mm |
| Ｘ線源からミラーまでの距離 |
120mm |
【小角光学系】
| 入射スリット |
第1、第2、第3スリット共通
|
φ0.2、0.3、0.4、0.45、0.5、0.6、0.7、0.8、1.0、1.2、1.5mm |
| 第1〜第2スリット間距離 |
470mm |
| 第2〜第3スリット間距離 |
176.5mm |
| 連続可変真空パス |
試料〜検出器間 400〜700mm連続可変 |
- 【Ｘ線検出器】2次元半導体Ｘ線検出器 PILATUS 100K/RL
- ・2次元ハイブリッド画素アレイ検出器
3.応用分野
- 形状、大きさ（粒径）の測定【散漫散乱】：分子の形状、大きさ、粒径、空隙
- 結晶性周期構造の測定【干渉性散乱】：層状（ラメラ）構造の周期性
- 物質の不均一構造の測定【干渉性散乱】：相変化、固溶体-金属の不均一構造
4.NANO-Viewerによる小角Ｘ線散乱測定
NANO-Viewerによる小角Ｘ線散乱測定の事例のうち、白金ナノ粒子の粒径解析とナフィオンの乾燥、及び湿潤状態の周期性構造の評価を紹介します。
測定条件
| 管球 |
Cu-kα |
| 出力 |
40kV-30mA |
| 1st slit |
0.4mm |
| 2nd slit |
0.25mm |
| 3rd slit |
0.44mm |
| ビームストッパー |
3mmφ |
| 測定法 |
透過法 |
| カメラ長 |
670mm |
| 検出器 |
PILATUS-100K |
1.白金ナノ粒子の粒径解析（測定時間：5分×3（拡張測定））
2.ナフィオンの周期性構造の評価（測定時間：20分×3（拡張測定））
